蔡司掃描電子顯微鏡
蔡司掃描電鏡FIB Crossbeam
蔡司掃描電鏡Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優異的加工性能。無論是在科研或是工業實驗室，您都可以在一臺設備上實現多用戶同時操作。得益于蔡司Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念，您可以根據自己需求的變化隨時升級儀器系統。在加工、成像或是實現三維重構分析時，Crosss
蔡司場發射掃描電鏡Sigma
蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列 擁有高品質成像和先進顯微分析功能的FE-SEM 蔡司場發射掃描電鏡Sigma系列產品集場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)技術與良好的用戶體驗于一體，助您輕松實現構建成像和分析程序，同時提高工作效率。您可以將其用于新材料和顆粒的質量監測，或研究生物和地質樣本。Sigma可實現高分辨率成像，它采用低電壓，能在1 kV或更低電壓下實現更高的分辨率和對比度。
場發射掃描電子顯微鏡GeminiSEM
蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM 360 它是中心實驗室的得力助手，在科研和工業領域中具有高通用性。 靈活的樣品適用性 場發射掃描電鏡GeminiSEM 360是中心實驗室的理想選擇，在科研和工業中具有非常高的通用性。 產品搭載Gemini 1鏡筒，在低電壓下依然具有高分辨成像能力，讓您輕松獲取樣品極表面高分辨信息。 通過鏡筒內二次
蔡司鎢燈絲掃描電鏡EVO18
蔡司掃描電鏡EVO18是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優異的成像品質。 標配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口，另有用于高級形貌與化學分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度光源將與X射線分析相關的探針電流性能提升至一個全新的水準。 EVO18 掃描電鏡的五象限背散射電子探測器(BSE)有助于增強低電壓性能及
蔡司EVO系列掃描電子顯微鏡
蔡司掃描電子顯微鏡EVO系列 模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用 EVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起， 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學， 材料科學， 或例行的工業質量保證和失效分析領域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據您的要求量身定制。 顯微鏡中心或工業質量保證實驗室的多功能解
